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分子束外延沉积速率监测/控制系统
英国Hiden公司的XBS三级滤过四极质谱(MBE Deposition Rate Monitoring / Control System),适于精确的MBE分析,其他气体分析和科学实验使用。
 
分子束外延沉积速率监测/控制系统
XBS 分子束外延沉积速率监测/控制系统(MBE Deposition Rate Monitoring/Control System),适于精确的MBE分析,其他气体分析和科学实验使用。
 
超高分辨率在线VOCs分析仪
奥地利IONICON公司的PTR TOF 8000超高分辨在线VOCs分析仪是用于气体监测和过程分析,便于生产研究使用。
 
HPR-40 MIMS 膜进样质谱仪
HPR-40 膜进样质谱仪(Membrane Inlet Mass Spectrometer)是一台用于液体中溶解或产生气体分析的小型台式气体分析系统。
 
等离子体刻蚀终点检测仪
英国Hiden公司的IMP离子蚀刻探针(Ion Milling Probe),自带差式泵,坚固的二次离子质谱仪,适于分析离子蚀刻过程中的二次离子和中性粒子。独有的专业终点检测(End Point Detection)仪器,用于离子蚀刻控制以及过程质量最优化监测。
 
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产品分类
在线气体分析  (14)
残余气体分析  (10)
等离子体-材料表面  (15)
催化、吸附、热分析  (15)
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粒子界面特性分析  (0)
电化学反应池  (0)

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