首 页 下载中心 网站地图 English
  您现在的位置: 北京英格海德分析技术有限公司 > 产品展示 > 等离子体-材料表面 > 二次离子质谱工作站
二次离子质谱工作站
The Hiden SIMS Workstation provides for high performance static and dynamic SIMS applications for detailed surface composition analysis and depth profiling.

SIMS 工作站(SIMS Workstationa complete SIMS Analysis Facility) ,综合UHV / SIMS 设备,进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。

 

·整合的离子源,便于RGASNMS

·各类型样品的快速转向

·阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪

·整合的离子枪光栅控制和信号选通,进行深度分析
·绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和
·液氮冷井和真空室烘烤加热器
·自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表,使SIMS性能最佳

 

·Hiden EQS SIMS 分析仪,运行于 MASsoft O/S 之下,检测限至ppb

·基本的激发源选择: 带差式泵的Hiden IG20 IonIFG200 FAB或高性能液态镓枪
·快速样品传递,样品固定,负载锁定的操纵器
·4 轴:X, Y, Z, θ UHV 操纵器,以最佳定位样品
·加上ESM LabVIEWSIMS 成像程序,进行SIMS元素成像
·静态SIMS谱图库可用

Copyright 2014. www.hiden.com.cn. All Rights Reserved 京ICP备05008133号-1  京公网安备11010802009820
123