二次离子/溅射中性粒子质谱仪

The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

仪器简介

主要特点

技术规格

相关应用

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。

·光栅控制，增强深度分析能力
·所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输
·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

·质量数范围： 300amu，500amu，1000amu

·检测器：离子计数探测器、正负离子探测器、10⁷cps

·质量过滤器： 3F四级杆

·杆直径： 9mm

·最高加热： 250℃

·离子源：电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)