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DECRA 气体分析质谱仪
QGA 定量气体分析质谱仪
HPR-20 R&D 研究级在线气体分析质谱仪
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HPR-20 TMS 瞬变过程气体分析质谱仪
HPR-40 MIMS 膜进样质谱仪
HPR-60 常压分子束取样质谱仪
HPR-70 批量进样气体分析质谱仪
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QIC BIOSTREAM 生物发酵多路气体分析质谱仪
QGA 定量软件
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残余气体分析四极质谱仪
超高真空残余气体分析四极质谱仪
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分子束外延沉积速率监测/控制系统
托卡马克装置残余气体分析质谱仪
快速反应质谱仪
IDP离子/分子分析质谱仪
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离子源
飞行时间二次离子质谱仪 TOF-SIMS
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高级朗缪尔探针
等离子体刻蚀终点检测仪
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铯离子枪
Ar/O2离子枪
激光分子束外延镀膜系统
MBR 气体膜分离测试仪
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催化微反应器–质谱仪
QGA-定量气体分析质谱仪
瞬变过程气体分析质谱仪
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常压分子束取样质谱仪
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VOCs走航监测仪
VOCs 和大气自由基分析-质子转移反应飞行时间质谱仪 PTR3-TOF
小型在线VOCs质谱仪 PTR-QMS 300
质子转移反应飞行时间质谱仪 PTR-TOF 1000
PTR-TOF 1000 Ultra
质子转移反应飞行时间质谱仪 PTR-TOF 4000
质子转移反应飞行时间质谱仪 PTR-TOF 6000 X2
可选择性离子源
气体自动定标校准系统
LCU-液态自动定标校准系统
BET-呼气采样系统
FastGC-快速气相色谱
PTR-MS 多路进样器
NASE-鼻腔采样器
DEMS 电化学质谱仪
高压导热系数分析仪
导热系数测试仪
高纯气体分析
相变材料导热系数测试方法
Hiden IG20 Ar/O2离子枪(Ion Gun),先进的离子枪,配合SIMS进行材料表面和深度的分析。
·静态、动态SIMS ·俄歇电子谱 ·离子束溅射 ·表面科学研究 ·光栅/ 深度分析
·具有100μm光斑直径的、0.5~5 keV能量的强离子束 ·高电流密度4.5 mA/cm2 ·电子轰击离子源具有氩和氧离子能力 ·扫描线散射和离子束光栅的光学调整功能,用于深度分析 ·离子枪的3°偏移量,用于中性粒子的最佳排斥 ·在光栅应用中,束消隐装置可以快速进行束的转换 ·差式泵源减少室内气体 ·便于更换的双灯丝 ·扫描速度可低至64μs ·与SIM 和EQS 探针一起,可以直接进行光栅速率/区域控制
·能量范围: 500eV ~ 5KeV
·最大电流: 800nA
·最小光斑尺寸: 50μm
·离子源寿命: >1000小时
·法兰规格: 斜楔法兰DN-35-CF
·气源压力: 0.1~0.5bar至一个大气压